Пошук :
Довідка :
Електронний каталог : Сичікова, Яна Олександрівна - Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпрові...
Сичікова, Яна Олександрівна - Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпрові...
Автореферат/Дисертація
Автор: Сичікова, Яна Олександрівна
Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпрові... : автореф. дис. … д-ра техн. наук
Видавництво: [б.в.], 2019 г.
ISBN відсутній
Автор: Сичікова, Яна Олександрівна
Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпрові... : автореф. дис. … д-ра техн. наук
Видавництво: [б.в.], 2019 г.
ISBN відсутній
(UA) Автореферат
A 232932
Главный филиал
Сичікова, Яна Олександрівна.
Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників : автореф. дис. … д-ра техн. наук : 05.01.02 / Яна Олександрівна Сичікова, Український нац. наук. центр "Ін-т метрології".– Харків : [б.в.], 2019.– 40 с.
150 пр. – На укр. яз.
-- 1. Технічні науки – Прикладна геометрія, інженерна графіка та ергономіка – Стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення.
A 232932
Главный филиал
Сичікова, Яна Олександрівна.
Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників : автореф. дис. … д-ра техн. наук : 05.01.02 / Яна Олександрівна Сичікова, Український нац. наук. центр "Ін-т метрології".– Харків : [б.в.], 2019.– 40 с.
150 пр. – На укр. яз.
-- 1. Технічні науки – Прикладна геометрія, інженерна графіка та ергономіка – Стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення.